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在液體中測顆粒的比表面積?是的,你沒有看錯!

更新時間:2019-08-05      點擊次數:2089

       日前,儀思奇(北京)科技發展有限公司楊正紅總經理在長沙舉辦的“鋰電及多孔材料的粒度和形貌表征技術進展研討會”上高調介紹了Xigo系列膠體和懸浮液顆粒比表面積分析儀。

       在液體中測顆粒的比表面積?

是的,你沒有看錯——測定膠體、乳液和懸浮液中顆粒的比表面積!

       有什么用途?

        漿料體系的顆粒比表面積與顆粒在體系的分散狀態有關。比表面積能反映材料的許多性能,例如:涂料的遮蓋能力,納米顆粒的改性和包覆效果,乳液或漿料配方的穩定性,催化劑的活性、藥物的療效以及食物的味道等等。但是,目前的經典方法是氣體吸附法測干燥固體的比表面。然而,絕大多數的樣品無論是在生產過程中還是終使用時,卻都是分散在液體中,通過制漿過程形成終產品。因此,必須知道樣品在懸浮液狀態下的比表面信息,而固體樣品的比表面積不具有代表性。美國Xigo Nanotools公司為我們提供了的技術手段,使得電池隔膜用陶瓷漿料、鋰電池正負極漿料、電子漿料、墨水、石墨烯和碳納米管漿料以及原料藥批次間的質量控制有了快速簡便的解決方案,并且結合美國分散技術公司(DT)的聲學技術,可為漿料體系和納米粒子的粒度、表面化學狀態或吸脫附狀態及微觀電學性質的研究,為破解導致不同批次之間差異和配方不穩定的原因提供了強有力的武器。

 什么原理?

        Xigo系列采用核磁共振技術,探知乳液或懸浮體系中“顆粒”與“溶劑”之間的表面化學、親和性、浸潤性,并在該狀態下計算顆粒的比表面積。這一劃時代的分析手段可以直接測量懸浮液,無需樣品處理,無需稀釋,無顆粒形狀的限制,測量過程僅需5分鐘,對研磨和粉碎過程可基本實現實時監控。因此,該方法對任何大小、任何形狀的固體或液體顆粒,特別是高濃體系樣品是理想的選擇。由于軟件可以自動設定所要優化的測量參數,操作者幾乎不經培訓即可操作,它將在品質管控和改善、縮短開發時間和工藝配方的篩選等方面提供助力。             儀思奇科技同時宣布,即將引進法國技術公司(Cordouan Technologies)的產品進入中國,包括Vasco kin原位時間分辨納米粒度分析儀和MAGELLAN(麥哲倫)痕量納米顆粒濃度測定儀。

       Vasco kin 的突出特點就是不接觸樣品,原位遠程測定包裝物及反應釜中的粒度分布及隨時間的變化,具有的分辨率,并且可以和其它分析手段聯用。為制藥行業的反應監測和藥瓶中的蛋白質聚集體納米階段的生成監控,甚至監控和研究中藥湯劑在加熱過程中的粒度變化都提供了有效的技術手段。同時,也是環境科學、功能化油墨,油田化學、鋰電材料、催化劑、化妝品和食品等領域的動力學研究工具。


        MAGELLAN(麥哲倫)痕量納米顆粒濃度測定儀用于水中納米顆粒的痕量表征,靈敏度高于傳統的動態光散射技術一萬倍,濃度測定低至ng/L的范圍,可對10nm到1000nm之間的顆粒進行計數,為水處理在線監測、超純水監測、濾膜效率及完整性監測以及過濾工藝、污染檢測等提供了的計數手段。結合法國ZetaCAD流動電位分析儀,MAGELLAN將我國膜分析技術跨上新臺階!

        儀思奇(北京)科技發展有限公司是“產學研商網”一體的儀器技術研發及應用推廣的儀器科技創新與服務平臺。公司于在新能源領域、生物醫藥、催化基礎與應用研究等領域的顆粒特性表征的前沿儀器產品和技術的引進與推廣。自2019年6月起,儀思奇(北京)科技發展有限公司正式成為美國XIGO NANOTOOLS公司在中國區的,全權負責該公司全系產品在中國境內的推廣銷售及售后服務工作。法國技術公司(Cordouan Technologies)納米測量儀器的引入,更是了國內納米科學研究技術手段的,對儀思奇目前擁有的Occhio圖像法粒度粒形和zeta電位分析技術,超聲法粒度和zeta電位分析技術是一個的補充,使公司能夠提供(粒度)從納米到厘米,(固含量)從極稀到極濃的體系的解決方案,納米顆粒分析研究將如虎添翼!

 

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