了解預測和量化納米粒度和Zeta電位分析儀的穩定性

更新時間：2017-07-11 點擊次數：1463

　　了解預測和量化納米粒度和Zeta電位分析儀的穩定性

　　點測量掃描，用于測試等電點、配方穩定性和膠體系統的均勻性，獲取體系真正的Zeta電位信息。了解、預測和量化產品的穩定性。

　　通過單次測試即可在整個動態范圍內獲取更多的樣品信息，節省時間。

　　深入研究獲取的數據，可提高產率，優化流程，開發潛能。

　　更高的靈敏度，提高了原始數據的質量和結果的性。

　　采用雪崩光電二極管（APD），可提供高靈敏度的檢測，可對少量的和極稀的樣品進行檢測，幫助用戶進行有效的小體積分析。

　　可生成用戶可定制的3D圖形以監測樣品變化、進行樣品批次對比及觀察pH值對樣品的影響，便于使用獲得數據改善工藝流程。

　　保護數據的完整性、確保重復性和度，獲得高可信度的結果

　　多點電泳遷移率檢測，消除EOF效應。

　　智能SOP（標準操作程序）設計，預置液體分散性質?？捎行У臏p少方法開發/調整的耗時。

　　寬廣的溫度控制范圍，可有效的蛋白質和生物樣品的完整性及生物活性。特殊設計的分析樣品池配備平行電極，可消除對蛋白質以及生物材料的熱損傷。

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