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微區電化學阻抗測試系統LEIS370/470

簡要描述:微區電化學阻抗測試系統LEIS370/470結合了電化學阻抗EIS技術和微區掃描技術,可以的測試局部微區的阻抗以及相應參數。

  • 產品型號:
  • 廠商性質:代理商
  • 更新時間:2023-12-28
  • 訪  問  量:4514

詳細介紹

微區電化學阻抗測試系統LEIS370/470

微區電化學阻抗測試系統LEIS370/470

應用:

* 薄膜阻抗復雜成像

* 池生長介質直接成像

* 光點化合反應特征化

* 電池

* 傳感器

* 金屬以及合金的鈍化

* 燃料池

* 腐蝕

 

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